数字市场 专利库 利用加权微分约束的红外条纹非均匀性校正方法

利用加权微分约束的红外条纹非均匀性校正方法

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专利申请号
CN201410125797.8
专利类型
发明专利
技术分类
G06T5/00
专利有效期
2034-03-31
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专利信息
专利名称:利用加权微分约束的红外条纹非均匀性校正方法
商品编号:13690
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申请日期:2014-03-31
公开/公告号:CN103985088B
授权公告日/公开日:2017-11-07
申请/专利权人: 杭州***大学
发明/设计人: 赵巨***秀敏
主分类号:G06T5/00
IPC分类号:G06T5/00
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一种利用加权微分约束的红外条纹非均匀性校正方法,包括:建立红外图像校正模型的代价函数;获得加权矩阵;利用所述加权矩阵对代价函数进行约束;利用拉格朗日定理获得优化方程,利用优化方程获得代价函数的最优解。根据图像中灰度的梯度信息特异性,构造校正模型,并利用加权矩阵对校正模型进行约束,并通过优化最终实现红外条纹非均匀性的校正。只要输入一幅非均匀性图像,即可快速得到非常好的校正结果,校正速度快。

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