数字市场 专利库 基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法

基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法

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专利申请号
CN201610348998.3
专利类型
发明专利
技术分类
G06T3/40
专利有效期
2036-05-24
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专利信息
专利名称:基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法
商品编号:5053365
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申请日期:2016-05-24
公开/公告号:CN106023082B
授权公告日/公开日:2019-01-08
申请/专利权人: 哈尔***大学
发明/设计人: 乔要***张彪
主分类号:G06T3/40
IPC分类号:G06T3/40; G06F17/50
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基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法,属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置,数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机;激光控制器(1)连接激光头(2),激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法,包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建,为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。

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基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法专利,专利类型:发明授权,技术分类是:G06T3/40,购买基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法专利,需要申请人和发明人的基础信息,还需提供基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法专利的详细信息。
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