基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法

基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。