数字市场 专利库 等离子体状态时间特性探测设备

等离子体状态时间特性探测设备

出售价格:
¥ 68208

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专利申请号
CN201620581184.X
专利类型
实用新型
技术分类
G01N23/227
专利有效期
2026-06-15
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专利信息
专利名称:等离子体状态时间特性探测设备
商品编号:5053434
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申请日期:2016-06-15
公开/公告号:CN205665184U
授权公告日/公开日:2016-10-26
申请/专利权人: 哈尔***大学
发明/设计人: 徐强***王骐
主分类号:G01N23/227
IPC分类号:G01N23/227
说明书摘要免费下载摘要

等离子体状态时间特性探测设备,涉及毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源技术中等离子体状态时间特性探测技术,目的是为了解决毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源技术中,无法获得等离子体状态的时间演变过程的问题。所述探测设备包括M0/Si反射镜、滤光片和X射线二极管;滤光片的透射谱的中心波长为13.5nm;极紫外光入射至M0/Si反射镜,并被M0/Si反射镜反射,然后经滤光片透射后,入射至X射线二极管的探测面。上述探测设备能够实时获取极紫外光辐射时间特性的探测设备。经过这样一个简易的探测设备,即可将由毛细管输出的极紫外光的时间演变过程观测和记录到,适用于毛细管放电Z箍缩获极紫外光的光源。

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常见问题
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等离子体状态时间特性探测设备专利,专利类型:实用新型,技术分类是:G01N23/227,购买等离子体状态时间特性探测设备专利,需要申请人和发明人的基础信息,还需提供等离子体状态时间特性探测设备专利的详细信息。
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专利权转让期限一般是2~6个月的时间获得专利转让通知书,在转让之前双方需要签订转让合同即可,等离子体状态时间特性探测设备专利具体的操作步骤,可以联系八戒数字交易的客服一对一服务。

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