一种环状物缺陷检测方法

出售价格

¥ 15944

卖家底价

¥ 12960

专利局官费

¥ 200

平台服务费

¥ 2784

注：上述费用仅包含专利权利转让费用，不包含专利年费或因年费未及时缴纳产生的滞纳金、恢复费。专利年费是专利权人依照专利法规定，自被授予专利权的当年开始，在专利权有效期内逐年应向专利局缴纳的费用。由于出售的专利类型、专利年限以及专利权人是否满足国家费用减缓的条件均会影响具体年费金额，需根据购买专利的实际情况进行缴纳。缴纳年费以及滞纳金、恢复费需单独和平台顾问确认且不属于下单后加价行为，故无法适用保障。

专利申请号：

CN201911355932.7

专利类型：

发明专利

技术分类：

G01B21/30

专利有效期：

2039-12-25

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专利信息

专利名称：一种环状物缺陷检测方法

商品编号：5059958

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申请日期：2019-12-25

公开/公告号：CN110986865A

授权公告日/公开日：2020-04-10

申请/专利权人：苏州***公司

发明/设计人：刘宁***鹏飞

主分类号：G01B21/30

IPC分类号：G01B21/30; G01N33/00

说明书摘要免费下载摘要

本发明涉及一种环状物缺陷检测方法，一种环状物缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤S1，在三维坐标体系里生成环状物边缘一圈的点云数据；步骤S2，计算出这些点云中能支撑环状物边缘到一个假定平面的唯一的三个支撑点A、B和C；步骤S3，利用这三个支撑点A、B和C形成一个唯一的平面；步骤S4，计算点云中所有点到这个平面之间的投射距离；步骤S5，判断计算出来的距离是否大于阈值。本发明可以检测环装物体边缘表面的缺陷，检测方法简单，方便检测，减少人工漏检率和误检率，减少人工成本，检测效率高。

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