一种测试电路结构及天线测试方法
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本申请公开了一种测试电路结构,所述测试电路结构包括:射频模块、多个天线单元、多个天线匹配电路和阻抗匹配电路,所述射频模块通过所述天线匹配电路与所述天线单元电连接,所述阻抗匹配电路与所述天线匹配电路、所述天线单元电连接,本申请实施例还公开了一种天线测试方法,能够应用于本申请实施例提供的测试电路结构;通过本申请实施例提供的测试电路结构,能够在需要对终端存在多个天线的情况下,对多个天线中的其中一天线进行调试测试的情况下,通过在无需检测的天线跟射频模块之间增加一组阻抗匹配电路,通过本申请实施例提供的阻抗匹配电路将阻抗直接接到地,能够降低调试时的误差,从而提升多个天线在调试测试的精准度。

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