数字市场 专利库 棱边缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

棱边缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

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专利申请号
CN201811478391.2
专利类型
发明专利
技术分类
G01N21/88
专利有效期
2038-12-05
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专利信息
专利名称:棱边缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
商品编号:5559099
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申请日期:2018-12-05
公开/公告号:CN109632808A
授权公告日/公开日:2019-04-16
申请/专利权人: 深**学
发明/设计人: 彭业***松波
主分类号:G01N21/88
IPC分类号:G01N21/88; G06T7/00; G06T7/11; G06T7/13; G06T7/136
说明书摘要免费下载摘要

本发明公开了一种棱边缺陷检测方法,包括:获取待测设备的棱边图像,将所述棱边图像划分为多个图像块,分别检测每个图像块是否存在缺陷,得到与每个图像块对应的检测结果,当任一个检测结果显示存在缺陷时,则确定所述待测设备的棱边存在缺陷。本发明还提供了一种棱边缺陷检测装置、电子设备及存储介质。本发明例突破了现有技术中无法检测设备棱边缺陷的问题,且采用本发明实施例的检测结果准确、便捷。

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