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自激励单电子自旋电磁晶体管及制作工艺

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专利申请号
CN201810064983.3
专利类型
发明专利
技术分类
H01L29/66(2006.01)I
专利有效期
2038-01-23
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专利信息
专利名称:自激励单电子自旋电磁晶体管及制作工艺
商品编号:5672568
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申请日期:2018-01-23
公开/公告号:CN108336136A
授权公告日/公开日:2018-07-27
申请/专利权人: 湖北***学
发明/设计人: 张**
主分类号:H01L29/66(2006.01)I
IPC分类号:H01L29/66;H01L29/82;H01L21/3
说明书摘要免费下载摘要

本发明公开了一种基于自激励单电子自旋电磁晶体管及制作工艺,所述晶体管包括衬底,衬底上设置有纳米碳化硅薄膜结构、源极、漏极、栅极,纳米碳化硅薄膜结构由层状纳米碳化硅单晶体薄膜互嵌构成,纳米碳化硅薄膜结构的两端分别与源极和漏极接触,形成源漏极有源区,纳米碳化硅薄膜结构的上部依次设置有绝缘层、接触金属层,栅极从接触金属层引出。本发明通过设置由层状纳米碳化硅单晶体薄膜互嵌构成的纳米碳化硅薄膜结构形成的纳米线或带,作为晶体管有源区,源漏极用Pd作为接触金属,形成肖特基势垒,其中出现隧穿。在室温下,本发明基于自激励单电子自旋电磁晶体管的源漏电压与漏电流的关系呈现干涉现象。

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