数字市场 专利库 太空质量测量仪及其高精度测量方法
太空质量测量仪及其高精度测量方法

太空质量测量仪及其高精度测量方法

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专利申请号：
CN201610131504.6
专利类型：
发明专利
技术分类：
G01G3/16
专利有效期：
2036-03-01
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专利信息
专利名称：太空质量测量仪及其高精度测量方法
商品编号：8515
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申请日期：2016-03-01
公开/公告号：CN105784078B
授权公告日/公开日：2018-08-21
申请/专利权人： 安*
发明/设计人： 安凯***宏亮
主分类号：G01G3/16
IPC分类号：G01G3/16
说明书摘要免费下载摘要

太空质量测量仪由机架、红外发射器，红外接收器、弹簧、测量箱和计算机组成。机架带有四根立柱，其中两根立柱的另一端均与一根弹簧的一端连接，两根完全一样的弹簧的另一端通过测量箱连接在一起。另两根立柱分别安装与计算机相连的红外发射器和红外接收器。分别测量出有、无被测对象时测量箱的振动周期即可求出被测对象的质量。本发明具有如下特点：(1)无运动部件和静止部件之间的摩擦，有效地避免了阻尼的不确定性；(2)采用封闭式测量箱装载被测对象，避免了被测对象形状不同引起的阻尼系数的变化；(3)被测对象质量的计算过程更加简单。

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太空质量测量仪及其高精度测量方法专利，专利类型：发明授权，技术分类是：G01G3/16，购买太空质量测量仪及其高精度测量方法专利，需要申请人和发明人的基础信息，还需提供太空质量测量仪及其高精度测量方法专利的详细信息。
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